放大电路的图解分析法
放大电路有两个显著特点,即含有非线性的放大器件和工作在交直流共存状态,因此,分析放大电路不能简单地套用线性电路的分析方法。分析放大电路常用的方法有
图解分析法和
微变等效电路分析法。图解分析法是指以晶体管的输入、输出特性曲线为基础,通过作图来分析放大电路性能的方法。它的基本思想是,把放大电路的输入、输出回路分成线性和非线性两个部分,并把描写这两个部分特性的电压-电流关系,以曲线的形式描绘在同一平面坐标内,根据两条曲线的交点决定它们的解。
放大电路的分析包括两个方面的内容,即
动态分析和
静态分析。
动态分析的任务是确定动态性能指标;静态分析的任务是确定静态工作点。
放大电路的静态图解分析
放大电路的静态图解分析的目的是在输入特性曲线及输出特性曲线上,通过做直流负载线而确定出静态工作点
Q。再由
Q求得
I
BQ、
I
CQ和
U
CEQ。
对输入回路,
i
B、
u
BE应同时满足:
u
BE = EC –
i
B
R
b(线性电路特性) GS0212
i
B =
f(
u
BE,
u
CE)(晶体管输入特性)
根据式GS0212的直线方程,找出两个特殊点作直线AB。A(EC,0);B(0, ) 连接这两点便得直线AB,称之为输入回路直流负载线,其斜率。AB直线和 输入特性曲线的交点即为静态工作点
Q(
U
BEQ、
I
BQ)。
由于,
I
B在较大范围内变化时,
U
BE基本上不变。因此,实际中对输入回路工作点的确定,更多地采用近似估算法。
对输出回路,
i
C、
u
CE)应同时满足:
i
C =
f(
I
B,
u
CE)
i
B = 常量 晶体管的输出特性
u
CE =
E
C –
i
C
R
C 输出回路外电路方程 GS0213
同理,由式 GS0213可找出两个特殊点:M(EC,0),N(0,)。连接MN即得直线
u
CE=
E
C –
i
C
R
C
如图Z0207中直线MN。这是一条斜率为:由直流负载电阻
R
C所决定的直线,称为输出回路的直流负载线。直流负载线与参变量
I
B=
I
B的那条输出特性曲线的交点即为静态工作点
Q(
U
CEQ,
I
CQ)。
由上可见,图解法确定
Q点的关键在于正确地作出直流负载线。由于负载线是由外电路元件参数决定的,当外电路元件参数发生变化时、直流负载线也相应地变化,从而工作点也随之变化,因此,用图解法,可以清楚地反映出,当元件参数发生变化时,
Q点的变化趋势。, 放大电路的图解分析法
放大电路有两个显著特点,即含有非线性的放大器件和工作在交直流共存状态,因此,分析放大电路不能简单地套用线性电路的分析方法。分析放大电路常用的方法有
图解分析法和
微变等效电路分析法。图解分析法是指以晶体管的输入、输出特性曲线为基础,通过作图来分析放大电路性能的方法。它的基本思想是,把放大电路的输入、输出回路分成线性和非线性两个部分,并把描写这两个部分特性的电压-电流关系,以曲线的形式描绘在同一平面坐标内,根据两条曲线的交点决定它们的解。
放大电路的分析包括两个方面的内容,即
动态分析和
静态分析。
动态分析的任务是确定动态性能指标;静态分析的任务是确定静态工作点。
放大电路的静态图解分析
放大电路的静态图解分析的目的是在输入特性曲线及输出特性曲线上,通过做直流负载线而确定出静态工作点
Q。再由
Q求得
I
BQ、
I
CQ和
U
CEQ。
对输入回路,
i
B、
u
BE应同时满足:
u
BE = EC –
i
B
R
b(线性电路特性) GS0212
i
B =
f(
u
BE,
u
CE)(晶体管输入特性)
根据式GS0212的直线方程,找出两个特殊点作直线AB。A(EC,0);B(0, ) 连接这两点便得直线AB,称之为输入回路直流负载线,其斜率。AB直线和 输入特性曲线的交点即为静态工作点
Q(
U
BEQ、
I
BQ)。
由于,
I
B在较大范围内变化时,
U
BE基本上不变。因此,实际中对输入回路工作点的确定,更多地采用近似估算法。
对输出回路,
i
C、
u
CE)应同时满足:
i
C =
f(
I
B,
u
CE)
i
B = 常量 晶体管的输出特性
u
CE =
E
C –
i
C
R
C 输出回路外电路方程 GS0213
同理,由式 GS0213可找出两个特殊点:M(EC,0),N(0,)。连接MN即得直线
u
CE=
E
C –
i
C
R
C
如图Z0207中直线MN。这是一条斜率为:由直流负载电阻
R
C所决定的直线,称为输出回路的直流负载线。直流负载线与参变量
I
B=
I
B的那条输出特性曲线的交点即为静态工作点
Q(
U
CEQ,
I
CQ)。
由上可见,图解法确定
Q点的关键在于正确地作出直流负载线。由于负载线是由外电路元件参数决定的,当外电路元件参数发生变化时、直流负载线也相应地变化,从而工作点也随之变化,因此,用图解法,可以清楚地反映出,当元件参数发生变化时,
Q点的变化趋势。